複雑化する製品開発において、設計～評価～製造の工程間の連携不足が大きな課題であり、MBD推進の障壁ともなっています。本セッションでは、この課題の取り組み事例として、NIのテストプラットフォーム（PXI,LabVIEW,データ管理）のご説明と、アナログ半導体設計～評価の工程間連携における取り組み、今後の図研ツールとの設計～評価連携の展望をご紹介いたします。
講演者
日本ナショナルインスツルメンツ株式会社
エンタープライズアカウント事業本部
アカウントマネージャー
大山 貴之 様
対象技術分野
MBD(モデルベース開発) MBSE(モデルベースシステムズエンジニアリング)
対象業種
自動車・輸送用機器 車載機器 電子デバイス製品
補足情報
【関連展示ブース、ホワイエセッション】
展示エリア⑤ 19：NIのテストプラットフォームとデータ管理ソリューション（日本ナショナルインスツルメンツ株式会社）
展示エリア⑤ 19：NIのテストプラットフォームとデータ管理ソリューション（日本ナショナルインスツルメンツ株式会社）
