日本最大級のものづくりカンファレンス
セッションID 2C1 講演カテゴリーテクノロジーパートナー

図研-AWRインターフェイスがもたらす解析精度と設計効率の劇的な向上

高速信号や高周波を扱う場合には、レイアウトの検証が欠かせません。このたび、図研の環境からレイアウトを効率的にAWRの環境にインポートし高精度に検証するインターフェイスを開発しました。本講演では、過去に扱った静電ノイズの除去に関する検討、差動線路のインピーダンスやクロストークの検討、モジュール基板設計の検討について紹介します。

講演者
AWR Japan 株式会社
シニア・フィールド・アプリケーション・エンジニア 菅原 努      
対象製品群
CR-5000、他 CR-8000
対象製品
解析関連(テクノロジーパートナー様ツール含む)
対象技術分野
CAE分野
対象図研製品名 :CR-5000、CR-8000